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ZEISS DotScan用于采集自由曲面的光學式探頭
ZEISS DotScan 是測量自由曲面和細微結(jié)構(gòu)的選擇。ZEISS DotScan 采用色階共聚焦白光探頭,特別適用于測量敏感、柔軟、具反射性或低對比度的表面,因為對于這類表面,探針或相機傳感器已超過其能力所及。使用 ZEISS DotScan 時,具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植入物的金屬部件無須注入造影劑,即可進行掃描。因此,使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。
ZEISS DotScan特點
ZEISS DotScan 是測量自由曲面和細微結(jié)構(gòu)的不二選擇。ZEISS DotScan 采用色階共聚焦白光探頭,特別適用于測量敏感、柔軟、具反射性或低對比度的表面,因為對于這類表面,探針或相機傳感器已超過其能力所及。
蔡司DotScan的應(yīng)用范圍包括敏感、反射或低對比度的表面。
使用 ZEISS DotScan 時,具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植入物的金屬部件無須注入造影劑,即可進行掃描。因此,使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。
用途多樣靈活
ZEISS DotScan 共有三種探頭尺寸,適用于三種不同的測量范圍:10、3 和 1 mm。探頭可在一次 CNC 運行期間全自動更換,以適用于不同的表面,或改換其他光學探頭。
關(guān)節(jié)軸每次可移動 2.5 度,可將 ZEISS DotScan 調(diào)整到垂直于待測量部件。且由于 ZEISS DotScan 1 mm 的測量角度是 +/- 30 度,因此更大曲率的部件也能測量。再加上探針的操作模式,使得各種材料都能毫無問題地從各種角度進行測量。配合使用轉(zhuǎn)臺,甚至連 4 軸的測量工作也難不倒 ZEISS DotScan。